一种闭锁输入输出逻辑检测方法

本发明公开了一种闭锁输入输出逻辑检测方法，属于电子电路系统故障检测领域，包括：确定执行闭锁功能的逻辑单元，构建逻辑判断函数，计算理论输出信号及逻辑判断的时钟系数；设置输入信号的的动态时钟偏移范围，并基于重要程度设置输入信号的动态时钟偏移阈值；计算动态时钟偏移模拟后的时钟系数、以及动态时钟偏移模拟出的时钟系数平均值；评估逻辑单元的响应故障情况；基于逻辑判断函数计算逻辑单元输出的所有理论输出信号，计算输出响应的匹配度，评估逻辑单元的输出逻辑响应是否正常。本发明显著提升了闭锁逻辑的检测效能，还可适用于芯片设计验证、硬件电路故障诊断及嵌入式系统可靠性评估。