芯片电源噪声影响测试方法及装置

本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片电源噪声影响测试方法及装置。该方法包括：利用多模态传感阵列对芯片电源进行多维数据采集，获取原始传感数据，通过时间同步校准和信号预处理得到高质量多维数据；对处理后的数据进行时频域分解、关联计算和进行时延和位置计算确定噪声源分布；将噪声源分布映射到芯片版图并进行多物理场计算，生成耦合传播矩阵，通过特征值分解和路径计算得到噪声传播特征图谱；基于传播特征图谱设计测试工况，进行芯片功能模块性能测试，建立噪声与功能性能的响应关系，确定功能失效噪声临界值和容限边界，形成完整的电源噪声影响测试结果。本方法实现了芯片电源噪声的精确定位和提高了电源噪声影响的评估准确度。