一种芯片动平衡测试用校正方法及其系统

本发明涉及动平衡校正技术领域，具体涉及一种芯片动平衡测试用校正方法及其系统。一种芯片动平衡测试用校正系统，包括：不平衡频域特征向量构建模块、不平衡量分析模块、动平衡校正模块和强化学习模块。本发明通过对陀螺仪和加速度计采集的电信号进行频域分析，再通过峰值查找算法确定芯片不平衡对应的振动信号特征，进而通过不平衡量分析模型和动平衡校正模型的配合，确定芯片动平衡校正对应的动平衡校正参数集，通过动平衡校正参数集对安装在芯片上的IPMC薄膜层对应的IPMC阵列单元进行驱动电压调整，以实现对芯片质量分布的调整，进而实现对芯片的动平衡校正。