一种基于X射线荧光光谱的岩矿中硅酸盐成分分析方法

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一种基于X射线荧光光谱的岩矿中硅酸盐成分分析方法
申请号:CN202510530085
申请日期:2025-04-25
公开号:CN120404818A
公开日期:2025-08-01
类型:发明专利
摘要
本发明涉及成分分析技术领域,公开了一种基于X射线荧光光谱的岩矿中硅酸盐成分分析方法,包括以下步骤:S1:样品采集与预处理,对初始样品进行采集以及破碎烘干、S2:样品压片制备、S3:标准样品制备、S4:X射线荧光光谱分析、S5:数据处理与结果分析。本发明通过建立的深度学习模型,通过对大量已知成分和荧光光谱数据的学习,能够自动捕捉元素间复杂的干扰特征模式,在校正岩矿中多种元素间干扰的示例中,模型可以利用其网络结构,包括建立的卷积层、池化层、全连接层,从多组样本数据中提取有效信息,准确学习到元素间干扰关系,相比传统方法,显著提高了对岩矿中硅酸盐成分含量分析的精度,使测量结果更接近真实值。
技术关键词
硅酸盐成分 分析方法 荧光强度数据 岩矿样品 激光粒度分析仪 关系型数据库管理系统 X射线荧光光谱仪 深度学习模型 采样点 Fe2O3含量 成分分析技术 脱模剂 校准 压片机 薄片 地质罗盘 采样现场
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