回归测试用例的确定方法、装置、存储介质和电子设备

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回归测试用例的确定方法、装置、存储介质和电子设备
申请号:CN202510533073
申请日期:2025-04-25
公开号:CN120448265A
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本申请提供了一种回归测试用例的确定方法、装置、存储介质和电子设备,该方法包括:获取多个初始用例的回归测试信息,各回归测试信息至少包括对应的初始用例的关联节点、节点覆盖度、历史缺陷数量、执行难易程度、执行顺序和关联模块的重要程度;根据初始用例的回归测试信息,构建目标函数;以最高的执行效率和最高的覆盖均匀度为目标,采用多目标遗传算法对目标函数进行求解,得到回归测试用例集,并采用图论算法确定回归测试用例集中各目标测试用例的执行顺序。该方法首先定义和量化测试用例各类属性,并基于此选择和排序回归测试用例,生成一套高效的回归测试用例集,确保测试用例能够充分覆盖系统的各个方面,更好地发现和解决潜在的问题。
技术关键词
回归测试用例集 图论算法 遗传算法 节点 可读存储介质 电子设备 覆盖系统 排序算法 程序 计算机 层级 模块 关系 存储器 处理器 数据 链路 分层
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