芯片测试方法、装置、计算机设备、可读存储介质和程序产品

本申请涉及一种芯片测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：基于执行第一程序语言依赖的解释器，对第一程序语言编写的脚本文件进行解析，获取芯片测试任务以及所述芯片测试任务对应的测试对象的参数信息；将所述参数信息发送至第一服务器，以指示所述第一服务器根据所述参数信息运行第一编译文本，对所述测试对象进行测试，得到测试数据，并将所述测试数据发送至所述终端，其中，所述第一编译文本为基于执行第二程序语言依赖的编译器对所述第二程序语言编写的程序文件进行编译后得到；接收所述测试数据，并根据所述测试数据确定所述芯片测试任务对应的测试结果。采用本方法能够提高效率和灵活性。