一种筛选存储芯片安全性指标的测试算法

本发明涉及存储芯片测试技术领域，具体公开了一种筛选存储芯片安全性指标的测试算法，所述算法包括以下步骤：首先按照固定温差间隔建立多组不同温度的监测环境，通过结合存储芯片在读写测试中每次读写作业的读写数据，可以对各个存储芯片在该次读写作业过程中的读写异常系数进行计算，该数据反映出了不同测试环境中存储芯片在一次读写作业中的读写状态是否合格，之后通过结合一次读写测试中各个存储芯片的测试数据对读写稳定性做出分析，并结合该数据对各个存储芯片的读写次数进行预估，并结合预设的读写作业次数阈值对存储芯片的安全性进行分析，即可减少大量的读写作业测试，从而提高存储芯片安全性的测试效率。