一种基于UVM的多精度张量计算单元验证平台和验证方法

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推荐专利
一种基于UVM的多精度张量计算单元验证平台和验证方法
申请号:CN202510541485
申请日期:2025-04-28
公开号:CN120470987A
公开日期:2025-08-12
类型:发明专利
摘要
本发明涉及芯片验证领域,具体为一种基于UVM的多精度张量计算单元验证平台和验证方法。本发明通过APB代理组件和AXI代理组件与DUT交互,模拟真实的总线行为;验证平台包含多种数据精度的C语言矩阵乘加运算函数,可根据验证需求进行自定义配置,支持自定义预期误差范围、自定义数据精度、自定义矩阵大小、自定义APB协议配置和自定义AXI协议配置,大大提高了验证平台的灵活性和可拓展性;最终以实现模拟多种数据精度下的矩阵乘加运算,对不同的多精度张量计算单元进行验证时,只需根据DUT所支持的功能配置相应的exce l表格,而无需对验证平台的框架或结构进行大规模改动,减小了验证工程师的工作量,缩短了验证周期,大大降低了验证成本。
技术关键词
序列发生器 验证平台 监控器 矩阵 主机 精度 数据 动态链接库文件 预期误差 覆盖率 验证方法 调用动态链接库 AXI协议 解码 支持自定义 后门 芯片验证 接口 存储器
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