点激光高度测量装置及利用其测量高度的方法

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点激光高度测量装置及利用其测量高度的方法
申请号:CN202510541599
申请日期:2025-04-28
公开号:CN120351851A
公开日期:2025-07-22
类型:发明专利
摘要
本发明揭示了一种点激光高度测量装置及利用其测量高度的方法,所述点激光高度测量装置包括点激光光源、光学透镜及图像采集装置,其中所述图像采集装置为一面阵图像传感器,所述面阵图像传感器包括由多行与多列像素形成的像素阵列,所述点激光光源发射的激光经被测物体表面反射后通过光学透镜聚焦后照射在面阵图像传感器的多个像素上,本发明的点激光高度测量装置利用点激光光源与面阵传感器配合,如此可以通过一次图像采集即可取得被测物体表面局部的高度,一方面是可以利用平均算法输出被测物体表面的高度值,从而可以提高测量的精度和稳定性,另一方面也可以对高度值的极值进行判断,以提高测量的有效性。
技术关键词
图像采集装置 面阵图像传感器 激光光源 光学透镜 位移传感装置 像素阵列 物体 算法 光斑 有效性 极值 精度 基础 数据
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