基于物理指标的齿轮表面精度筛选方法

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基于物理指标的齿轮表面精度筛选方法
申请号:CN202510546363
申请日期:2025-04-28
公开号:CN120470434A
公开日期:2025-08-12
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于物理指标的齿轮表面精度筛选方法,包括如下步骤:S1、采集粗磨、半精磨和精磨阶段的加速度信号,传输至云端预处理,得到预处理信号数据集;S2、计算有效值变化曲线,利用局部极值算法分割信号,提取精加工阶段信号;S3、提取振动信号时域特征,结合齿轮精度报告构造物理指标;S4、采用K‑SVD算法进行稀疏表示,去除冗余信息,得到稀疏特征数据集;S5、构建变分贝叶斯分类模型,计算后验概率,筛选齿轮精度类别;S6、迭代优化分类模型,生成最终筛选数据集。本发明利用变分贝叶斯分类模型与K‑SVD稀疏表示技术,实现基于物理指标的齿轮表面精度筛选,提高筛选精度与稳定性。
技术关键词
信号 稀疏特征 筛选方法 精度 数据 齿轮 SVD算法 字典 指标 有效值 物理 残差矩阵 振动传感器 时域特征 经验模态分解方法 变分贝叶斯方法 包络 加速度
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