一种基于JTAG的PCIe ATE测试方法及系统

本发明适用于ATE测试技术领域，提供一种基于JTAG的PCIe ATE测试方法及系统，所述方法包括：测试之前，根据仿真激励文件，提取各输出响应数据的等待延时信息和各数据位的位延时信息，并生成相应的配置文件，再将输入的仿真激励文件和配置文件作为测试向量，同时导入ATE测试设备，由ATE测试设备自动在配置文件延时信息对应的时间点，获取输出数据进行比对。通过此方法，提高比对准确性，大大减少测试工程师人工调整的工作量，极大的提升了测试效率。