基于深度学习的Bumping制程缺陷自动化分析系统

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基于深度学习的Bumping制程缺陷自动化分析系统
申请号:CN202510550654
申请日期:2025-04-28
公开号:CN120471857A
公开日期:2025-08-12
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于深度学习的Bumping制程缺陷自动化分析系统,本发明涉及缺陷自动化检测技术领域,解决了无法系统性分析多种缺陷间的空间关联、因果关系及传播路径,缺乏基于历史数据与实时检测的综合分析手段,难以快速定位缺陷源头的技术问题,本发明通过区分单一缺陷与多类型缺陷,通过缺陷关联网络分析共现模式,避免单一算法对复杂缺陷组合的漏检,通过将缺陷抽象为图节点,计算度中心性与介数中心性,量化缺陷在关联网络中的“活跃度”与“桥梁作用”,结合历史缺陷记录与实时检测数据,通过频率占比排序、原因‑缺陷映射表及阈值判断,自动定位根源缺陷,对非对应缺陷信号,通过空间或工艺交集分析,挖掘潜在关联原因,避免遗漏间接因果链。
技术关键词
自动化分析系统 制程缺陷 缺陷分析 分析处理单元 图像采集单元 自动化检测技术 信号分析 半导体 定位缺陷 判断缺陷 网络分析 工业相机 源节点 标记 对象 算法
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