多通道跨工位对焦方法、设备及介质

AITNT
正文
推荐专利
多通道跨工位对焦方法、设备及介质
申请号:CN202510551436
申请日期:2025-04-29
公开号:CN120539902A
公开日期:2025-08-26
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种多通道跨工位对焦方法,包括:在第一工位扫描被测物时,同步获取被测物表面的三维高度轮廓数据;将三维高度轮廓数据进行插值处理,生成与第二工位扫描路径相匹配的预测高度数据;基于预先标定的坐标系转换矩阵,将预测高度数据映射至第二工位坐标系,得到映射后的高度数据;在第二工位扫描过程中,结合映射后的高度数据与机械系统误差修正量,驱动Z轴执行机构实现动态对焦补偿。本申请通过在第一工位扫描时,同步预扫描被测物表面的三维高度轮廓数据,再通过插值处理、坐标系转换和误差修正等操作,把对焦数据传给第二工位,从而在第二工位处无需再执行用于高度测量的预扫描工序,由此缩短晶圆检测周期,有效提升晶圆检测效率。
技术关键词
工位 Z轴执行机构 多通道 轮廓数据 景深成像系统 系统误差 聚焦评价函数 认证设备 坐标系 三次样条插值算法 光学系统 处理单元 扫描行数 存储单元 基准 矩阵 标记 动态
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号