一种基于芯片测试的信号传输方法

本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种基于芯片测试的信号传输方法，包括：利用T800测试机对TOF芯片开展非图像类功能测试，全面检测芯片的基础电气性能；完成测试后，T800测试机为TOF芯片供电，并进行寄存器配置，确保芯片进入正常工作状态；TOF芯片按照MIPI协议格式输出数据，高速MIPI采集卡对数据进行采集，采集期间根据测试需求实时调整测试光源，采集卡同步进行协议解析与数据保存；采集卡将处理后的数据上传至PC端，PC端借助T800测试机中的CIS类API函数或客户端算法对数据进行运算处理，并展示运算结果；对于图像相关功能参数的测试，则通过重复上述流程并切换芯片相应模式来实现。