DDR的参数调试方法、系统、设备、介质和程序产品

本公开提供了一种DDR的参数调试方法、系统、设备、介质和程序产品，DDR应用于芯片中，参数调试方法包括：在预设仿真工具中对芯片的待调试模型进行仿真，将待调试模型在预设时段内的状态数据保存为快照数据；获取DDR的初始时序参数；基于快照数据和初始时序参数，对待调试模型进行仿真，以得到待调试模型中预设函数的实际执行结果；基于实际执行结果，得到DDR的目标时序参数。本公开将预设时段内芯片的待调试模型的状态数据保存为快照数据，根据快照数据和获取的DDR的初始时序参数，对待调试模型进行仿真，节省了芯片重新上电、时钟复位的初始化时间，减少了初始时序参数的调试时间，提升了调试效率。