一种存储芯片的测试系统及测试方法

本发明提供一种存储芯片的测试系统及测试方法，测试系统包括芯片测试座，用于安装存储芯片；存储芯片配置有多种工作模式；中央处理单元，用于在存储芯片处于每种工作模式下，将第一主机数据写入存储芯片中，并获取对应的写入放大系数；中央处理单元用于在存储芯片处于每种工作模式下，将第二主机数据写入存储芯片中，并根据第二主机数据的总数据量、每种工作模式对应的写入放大系数，计算存储芯片可写入的总数据量；其中，第二主机数据的总数据量大于等于存储芯片的存储空间。本发明可节省获取存储芯片的使用寿命的时间和成本。