一种无掩膜光刻设备对位与曝光运动标定方法及装置

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一种无掩膜光刻设备对位与曝光运动标定方法及装置
申请号:CN202510562208
申请日期:2025-04-30
公开号:CN120161686A
公开日期:2025-06-17
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种无掩膜光刻设备对位与曝光运动标定方法及装置,属于光刻设备对位与曝光技术领域。该无掩膜光刻设备对位与曝光运动标定方法包括如下步骤:S1:获取第一坐标转换关系,获取第二坐标转换关系;S2:获取第一待测坐标;S3:获取第二待测坐标,获取第三待测坐标;S4:基于第二待测坐标控制DMD中心对第一待测点进行曝光打点,基于第三待测坐标控制相机对位该第一待测点。本发明中在应用标定算法和插值算法进行坐标变换时均没有投影变换的限制,可以模拟透视效果,对于不同高度距离的相机对位都能够进行,可以处理三维空间或更复杂的变换,能够适应更多的坐标变换。
技术关键词
无掩膜光刻设备 坐标系 标记 标定方法 标定算法 插值算法 关系 相机 基础 标定装置 运动 控制模块 曝光技术 处理器 标定板 可读存储介质
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