系统性能的测试方法及装置、电子设备、存储介质

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正文
推荐专利
系统性能的测试方法及装置、电子设备、存储介质
申请号:CN202510569973
申请日期:2025-04-30
公开号:CN120492295A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本公开提供了一种系统性能的测试方法及装置、电子设备、存储介质,该方法包括:对系统进行压力测试,获取系统在测试时段所对应的时序序列;时序序列用于表征系统在多个单位时间对应的多个测试数据项,每个测试数据项用于表征系统在对应的单位时间内的实际事务处理能力;根据预设时间窗口,确定与时序序列相对应的多个时序子序列;针对任一时序子序列,对时序子序列包含的多个测试数据项进行联合特征提取,得到时序子序列对应的序列联合特征;将每个时序子序列对应的序列联合特征输入预设的性能预测模型,根据性能预测模型,确定系统的预测事务处理能力。本公开实施例能够实现对系统事务处理能力的准确预测。
技术关键词
时序 序列 性能预测模型 事务处理 指标 联合特征提取 多项式 测试方法 压力 表征系统 数值 电子设备 脚本 处理器通信 可读存储介质 模块 存储器 数据 计算机
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