一种基于时延效应的电容薄膜真空计控温方法

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正文
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一种基于时延效应的电容薄膜真空计控温方法
申请号:CN202510572519
申请日期:2025-05-06
公开号:CN120489433A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本发明为一种基于时延效应的电容薄膜真空计控温方法,包括以下步骤:采集目标设备的多个时间片数据,每个时间片包含此时的温度T和功率p,采集的数据集分为求解集和验证集;建立时延转化模型,量化功率转化的延迟效应为ts时间片,并定义转换系数设定温度恒定功率x以及时间片ts作为函数超参数;利用AI算法和求解集,得到转化系数超参数x、ts以及求解得到的转化系数在验证集上进行验证,得到实际温差,预测温差与实际温差作为评估的指标;把最接近预测温差的实际温差作为优选,根据得到该实际温差的各个参数,对电容薄膜真空计进行PID控制;以减少设定温度与实际温度之间的差异,通过该优化算法,能够将每个产品的温度波动控制在±0.01℃以内。
技术关键词
薄膜真空计 控温方法 时延 时间片 温差 温度恒定 功率 电容 超参数 延迟效应 AI算法 测温单元 数据 指标 定义 噪声 关系
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