一种基于改进YOLOv8n的PCB表面缺陷检测方法和系统

本发明提供一种基于改进YOLOv8n的PCB表面缺陷检测方法和系统，方法包括：获取PCB表面缺陷数据集并进行预处理，随后划分训练集和测试集；选用YOLOv8n模型作为基础模型，并对YOLOv8n模型进行改进，构建PCB表面缺陷检测模型AGS‑YOLO；利用训练集迭代训练AGS‑YOLO，将测试集输入训练好的AGS‑YOLO中进行缺陷检测，获取测试集中每张PCB图像的表面缺陷检测结果；本发明提出的AGS‑YOLO模型同时实现了检测精度的提升和参数量和计算量的优化，在复杂背景小目标PCB检测中实现了性能和计算成本的兼顾，为PCB缺陷检测提供了一种高效、准确的方案。