一种光纤束端面的几何参数检测方法和装置

本发明涉及光学检测仪器领域，公开一种光纤束端面的几何参数检测方法和装置，方法包括：控制光源发出的光线以预设角度及最优照明度斜射入待检测光纤束；采用不同卷积核对待检测光纤束的端面图像中不同像素位置的像素点进行卷积操作，生成梯度图；提取梯度图的边缘图像，并进行椭圆拟合和圆形拟合，获取拟合图像对应的椭圆参数和圆形参数；计算待检测光纤束的几何参数。本发明采用普通照明光源并斜射到包层和涂覆层表面，不仅能够实现对于具有涂覆层和包层的光纤进行几何参数检测，同时优化了图像边缘提取算法中具体卷积参数以及光源亮度、斜射角度调节方法等等，不仅可以适应不同长度、不同透射率的光纤束，而且提高了检测效率与精准性。