基于回溯路径优化的自动测试向量生成方法及系统

本发明公开了一种基于回溯路径优化的自动测试向量生成方法及系统，该方法将待测电路每个逻辑门的特征信息输入训练好的神经网络模型，预测每个逻辑门的状态，包括成功和失败；根据逻辑门的状态采用ATPG算法进行自动测试向量生成，在回溯过程中对于标签为成功的逻辑门则选择该逻辑门加入回溯路径，对于标签为失败的逻辑门则跳过该逻辑门。本发明根据预测结果辅助回溯路径生成，有利于ATPG工具进行更高效的测试向量生成，降低测试时间和回溯次数。