基于图像处理的半导体陶瓷复合材料表面缺陷检测方法

本发明涉及缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于图像处理的半导体陶瓷复合材料表面缺陷检测方法；根据目标边缘中相邻边缘像素点的梯度差异特征获得局部梯度大小差异值和局部梯度方向差异值；根据局部梯度大小差异值和局部梯度方向差异值的分布特征获得边缘平滑特征值；根据任意两个目标边缘的边缘平滑特征值获得平滑差异度；根据平滑差异度获得缺陷概率值并判断是否存在缺陷；根据平滑差异度对目标边缘聚类、根据边缘平滑特征值选取缺陷边缘簇。本发明根据缺陷边缘簇中缺陷边缘的两侧区域的灰度差异特征获得分水岭分割算法的种子点和缺陷区域；根据缺陷区域的面积特征获得缺陷程度，提高了种子点选取和缺陷检测的准确性。