一种芯片测试设备的高效测试优化方法、系统及装置

本发明涉及一种芯片测试设备的高效测试优化方法、系统及装置，方法包括获取芯片测试设备的设备状态数据和测试管理信息，基于所述测试管理信息对所述设备状态数据进行测试单元划分，得到区域测试信息；获取所述芯片测试设备的实时运行数据，将所述实时运行数据与所述区域测试信息进行匹配分析，得到实时测试任务组；获取所述芯片测试设备采集的芯片性能数据，对所述区域测试信息进行负载预测，得到测试负载趋势，并与实时测试任务组进行资源规划分析，得到初始测试方案；对芯片性能数据进行异常识别，得到芯片异常信息；依据所述优先测试序列对所述初始测试方案进行全局优化，得到全局测试策略。本发明能实现对不同测试任务的精细化管理。