摘要
本发明提供一种基于纳米传感器的高精度材料缺陷检测方法,涉及材料缺陷检测技术领域,包括,S1.提供一纳米传感器,所述纳米传感器通过在材料表面或内部探测微小的缺陷,S2.将所述纳米传感器安装于待检测材料的表面或内部,并通过传感器对材料进行实时监测,获取材料中潜在缺陷的信号。该基于纳米传感器的高精度材料缺陷检测方法,通过结合纳米传感器和先进的人工智能算法,实现了对材料中微小缺陷的高精度识别。利用随机森林算法进行缺陷类型分类,对图像数据和信号特征数据的联合分析,确保了对多种缺陷类型的准确分类与定位。
技术关键词
材料缺陷检测方法
纳米
薄膜型传感器
反馈控制系统
人工智能算法
信号滤波模块
信号特征
随机森林
数据处理单元
监测传感器
支持向量机
检测传感器
信号处理
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