一种基于纳米传感器的高精度材料缺陷检测方法

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一种基于纳米传感器的高精度材料缺陷检测方法
申请号:CN202510583293
申请日期:2025-05-07
公开号:CN120468375A
公开日期:2025-08-12
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种基于纳米传感器的高精度材料缺陷检测方法,涉及材料缺陷检测技术领域,包括,S1.提供一纳米传感器,所述纳米传感器通过在材料表面或内部探测微小的缺陷,S2.将所述纳米传感器安装于待检测材料的表面或内部,并通过传感器对材料进行实时监测,获取材料中潜在缺陷的信号。该基于纳米传感器的高精度材料缺陷检测方法,通过结合纳米传感器和先进的人工智能算法,实现了对材料中微小缺陷的高精度识别。利用随机森林算法进行缺陷类型分类,对图像数据和信号特征数据的联合分析,确保了对多种缺陷类型的准确分类与定位。
技术关键词
材料缺陷检测方法 纳米 薄膜型传感器 反馈控制系统 人工智能算法 信号滤波模块 信号特征 随机森林 数据处理单元 监测传感器 支持向量机 检测传感器 信号处理 多层次
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