基于ARM与双DSP芯片的电能质量检测仪及检测方法

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基于ARM与双DSP芯片的电能质量检测仪及检测方法
申请号:CN202510583614
申请日期:2025-05-07
公开号:CN120691997A
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明提供基于ARM与双DSP芯片的电能质量检测仪及检测方法,涉及电能质量检测技术领域,包括依次连接的异构通信模块、动态任务调度模块、容错自愈模块;所述异构通信模块包含专用DMA通道与多级优先级消息队列。通过对异构通信通道的多方面深度优化,数据传输的稳定性、速率和灵活性达到新高度,能应对更为复杂和多样化的电能质量数据传输场景,相比现有技术在通信性能上实现质的飞跃,有效支撑系统对海量、高频数据的高效处理需求。
技术关键词
芯片 检测仪 任务调度 通信模块 异构 电能 队列 消息 调度器 通道 动态 快照 数据 备份 场景 速率 周期 资源
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沪ICP备2023015588号