一种显示接口辅助通道逻辑的测试电路、芯片及测试方法

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一种显示接口辅助通道逻辑的测试电路、芯片及测试方法
申请号:CN202510584925
申请日期:2025-05-07
公开号:CN120110609B
公开日期:2025-07-29
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种显示接口辅助通道逻辑的测试电路、芯片及测试方法,测试电路包括处理器、输出选择模块、时钟调节模块、输出器、输入器和输入选择模块。处理器包括测试控制模块和测试码型输出模块,测试控制模块用于控制输出选择模块选择测试码型输出模块输出的测试码型。输出器用于根据时钟调节模块向输入器输出测试码型。输入器用于向输入选择模块输入根据测试码型得到的解析数据。测试控制模块还用于控制输入选择模块选择测试比对模块,以确定测试结果。该测试电路集成于芯片内部,降低了信号传输的复杂度,一方面可以根据测试用例实现自动、高效、全面的测试;另一方面可以根据时钟调节模块覆盖协议中的数据传输速率,保障测试的全面性。
技术关键词
测试电路 时钟调节 显示接口 输出模块 输入器 控制模块 逻辑 通道 测试方法 处理器 曼彻斯特编码 芯片 理论 数据 信号 频率 复杂度 协议 速率
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