基于TG和IRE-2的涂层基料发射率测试方法和系统

本发明属于材料检查技术领域，具体涉及一种基于TG和IRE‑2的涂层基料发射率测试方法和系统。先由TG发射率测量仪采集涂层基料目标区域全波段发射率数据并生成曲线，标记敏感波段。判断敏感波段在IRE‑2测量仪可测范围内后，获取其采集的双波段发射率数据。对全波段及双波段数据进行线性回归分析得到映射关系模型，以此为核函数建立SVM神经网络模型。最终利用IRE‑2实时采集数据输入模型输出涂层基料的全波段发射率。该方法能精准确定敏感波段，通过双波段测量结合模型预测全波段发射率，提高测量效率与准确性。