一种自动化强兼容性的芯片测试设备

本发明公开了一种自动化强兼容性的芯片测试设备，涉及芯片制造技术领域。本发明包括芯片测试设备本体，所述芯片测试设备本体的内部设置有测试室，所述测试室的一侧固定安装有电动滑门，所述测试室的内部固定安装有多个均匀分布的Y轴承托架，所述Y轴承托架的顶部均固定安装有多个均匀分布的单体测试台，所述单体测试台的顶部均固定安装有上电插座。本发明可实现对芯片稳定性的批量化测试，既提高了测试效率，又可以提供足够的样本量，保证测试数据的可靠性，同时整个测试过程高度自动化，电路板底座、上料横架等运输部件以及转接插头等测试部件均为可替换的模块，保证了芯片测试设备本体测试时的强兼容性，方便对不同型号的芯片进行测试。