显示芯片的表面缺陷检测方法及系统

本发明公开了一种显示芯片的表面缺陷检测方法及系统，本发明涉及显示芯片的技术领域，根据显示芯片的表面图像和内部结构图像的匹配而确定多个功能区域，并标记表面图像的第一表面缺陷区域；基于多个功能区域、第一表面缺陷区域以及显示芯片的故障信号确定多个异常功能区域，保证了多个异常功能区域的精准性。因此，根据多个异常功能区域、显示芯片的数据库和显示芯片的型号确定多个表面缺陷事件，并根据多个表面缺陷事件和显示芯片的表面图像确定第二表面缺陷区域；根据第二表面缺陷区域和第一表面缺陷区域确定显示芯片的表面缺陷种类，充分考虑第二表面缺陷区域和第一表面缺陷区域，保证了显示芯片的表面缺陷种类的精准性。