一种基于单次彩色成像的多波长偏振测量系统及方法

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一种基于单次彩色成像的多波长偏振测量系统及方法
申请号:CN202510598840
申请日期:2025-05-09
公开号:CN120445403A
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开了光学测量技术领域的一种基于单次彩色成像的多波长偏振测量系统及方法。该基于单次彩色成像的多波长偏振测量系统包括涡旋波片,线性偏振片,RGB相机以及处理单元。本发明还提供了一种基于单次彩色成像的多波长偏振测量方法。该基于单次彩色成像的多波长偏振测量系统及方法通过单次彩色成像实现多个波长的偏振态快速测量,消除机械运动或色散元件需求,降低系统复杂性和成本。
技术关键词
偏振测量方法 波长 线性偏振片 光强 成像 校准 三通道 投影算法 相机 穆勒矩阵 检偏器 处理单元 波片 偏振态 斯托克斯参数 强度 入射系统 校正 图像
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