一种固态去耦合器性能监测方法及系统

本发明涉及电子设备性能检测技术领域，公开了一种固态去耦合器性能监测方法及系统，其中，一种固态去耦合器性能监测方法包括以下步骤：首先利用集成电磁测量硬件平台采集阻抗谱及自发射电磁信号原始数据，经预处理成标准化数字信号；接着，基于非线性系统理论对其进行特征提取，得到阻抗谱与自发射电磁信号的非线性特征向量，并建立两者映射关系；之后，依据特征向量和映射函数计算互补验证残差；再运用双模态贝叶斯推断机制自适应优化系统参数与决策阈值，据此评估性能状态、预警；最后，将结果可视化并生成报告；本发明建立了互补验证机制，并引入自适应优化算法，实现了在复杂电磁环境下的高可靠性监测。