一种芯片电磁故障注入测试的参数优化方法和计算机设备

本发明公开了一种芯片电磁故障注入测试的参数优化方法，包括：采集大量训练芯片的电磁故障注入测试数据，构建训练数据集；使用所构建的训练数据集训练多个模型，建立电磁故障注入参数与攻击成功率之间的映射关系；采集新型号待测芯片的少量电磁故障注入测试数据；使用新型号待测芯片数据对已训练的模型进行迁移学习，并从迁移学习后的模型中选择最优模型；确定新型号待测芯片的电磁故障注入参数的取值范围，构建多维参数空间，使用拉丁超立方采样法生成均匀分布的参数组合；将参数组合输入到最优模型中，预测每个参数组合的攻击成功率，选取电磁故障注入测试的最优参数组合。本发明能够自动化地优化电磁故障注入参数组合，降低人工调优成本。