一种基于模型的芯片调试系统
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一种基于模型的芯片调试系统
申请号:
CN202510608812
申请日期:
2025-05-13
公开号:
CN120124550B
公开日期:
2025-08-29
类型:
发明专利
摘要
本申请涉及芯片验证技术领域,特别是涉及一种基于模型的芯片调试系统,该系统新增虚拟模块,虚拟模块仅需要实现部分硬件模块的功能,而无需具体抽象出硬件模块的接口定义,根据目标调试信息对应的目标层级,通过第一模块层级小于或者等于目标层级的硬件模块和第二模块层级等于目标层级的虚拟模块形成芯片调试模型,从而在满足芯片调试模型的功能准确性的前提下,提高使用芯片调试模型进行调试的效率,也即提高芯片调试的效率。
技术关键词
芯片调试系统
层级
芯片验证技术
子模块
处理器
存储器
沪ICP备2023015588号