一种射频多工位测试系统

本发明适用于芯片测试技术领域，提供了一种射频多工位测试系统，包括一体组装成型的电磁屏蔽玻璃、钣金防护罩以及操作界面；钣金防护罩内部依次安装有供料装置以及测试装置；供料装置包括第一承载板；第一承载板表面依次安装有集成料仓；集成料仓包括回收仓、上料仓、NG芯片存储仓以及OK芯片存储仓；集成料仓中设置有若干料盘；该装置通过各部件的配合使用，在满足对芯片、模组的射频测试以及直流测试稳定的情况下实现自动上、下料，将测试OK和NG的芯片自动进行分选并进行独立存储，同时满足对多种类型芯片、模组的测试，提高了对芯片的整体测试及搬运效率。