一种基于改进YOLOv10的PCB表面缺陷检测系统及方法

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一种基于改进YOLOv10的PCB表面缺陷检测系统及方法
申请号:CN202510611943
申请日期:2025-05-13
公开号:CN120125585B
公开日期:2025-09-09
类型:发明专利
摘要
本发明属于图像数据处理领域,涉及一种基于改进YOLOv10的PCB表面缺陷检测系统及方法,该系统通过对YOLOv10网络模型进行改进得到,将模型的主干网络中的C2f模块替换为多尺度跨阶段融合模块,用于提取图像的深层特征,捕捉输入数据中的多尺度信息;在颈部网络中引入动态感知特征信息增强模块并应用在P4和P5特征图的处理中;替换YOLOv10网络模型的检测头为Lag模块,Lag模块通过分组归一化卷积模块进行通道调整,之后通过共享卷积组,共享卷积组输出的数据分配至定位卷积模块和分类卷积模块。该系统在复杂背景噪声干扰下,也可实现微小缺陷的检测,具有检测精度和效率高等优势。
技术关键词
卷积模块 表面缺陷检测系统 表面缺陷检测方法 图像多尺度 Softmax函数 检测模型训练 感知特征 通道 网络 表面缺陷图像 背景噪声干扰 积层 多分支结构 图像数据处理 强化特征
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