PCB走线角度缺陷检测与评估方法、装置、终端及存储介质

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PCB走线角度缺陷检测与评估方法、装置、终端及存储介质
申请号:CN202510613128
申请日期:2025-05-13
公开号:CN120509185A
公开日期:2025-08-19
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种PCB走线角度缺陷检测与评估方法、装置、终端及存储介质,其中方法包括从PCB设计文件中提取走线的基础设计数据,并依据基础设计数据构建拓扑模型;根据拓扑模型和预设的阈值规则库得到基准角度阈值,依据基准角度阈值和拓扑模型进行动态补偿计算,生成当前PCB设计文件的最终角度阈值;依据基础设计数据对走线进行离散化处理,并获取离散化后的顶点序列,遍历全部顶点序列计算得到相邻线段之间的夹角;依据最终角度阈值从全部夹角中筛选得到处于预设的阈值缓冲范围内的边缘夹角,对边缘夹角进行风险等级划分并输出。
技术关键词
PCB设计文件 顶点 三维空间结构 基础 风险 基准 数据 序列 线段 三维可视化技术 角度检测模块 滑动窗口算法 案例库 生成热力图 可读存储介质 曲线 动态 位置映射 层叠结构 评估装置
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