面向工业制造的缺陷检测方法及计算机程序产品

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面向工业制造的缺陷检测方法及计算机程序产品
申请号:CN202510613224
申请日期:2025-05-13
公开号:CN120655962A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本申请涉及计算机视觉技术领域,公开了一种面向工业制造的缺陷检测方法及计算机程序产品,该方法包括:基于平均池化和最大池化确定输入特征图的目标下采样特征图,并基于多尺度卷积结构,对目标下采样特征图进行分组卷积操作,获得多尺度特征图,根据大核注意力机制和改进后检测头结构,对多尺度特征图进行处理,获得缺陷检测特征图,通过剪枝算法对缺陷检测特征图的冗余特征进行处理,获得目标特征图,并根据目标特征图获得缺陷检测结果。本申请基于平均池化和最大池化增强特征提取能力,利用多尺度卷积结构降低参数量,大核注意力机制和改进后检测头结构在兼顾精度和速度的同时,减少计算复杂度,且利用剪枝算法进一步实现轻量化。
技术关键词
缺陷检测方法 多尺度特征 空间关系特征 检测头结构 注意力机制 冗余特征 缺陷检测程序 输出特征 计算机程序产品 工业 尺寸特征 反卷积算法 重构 特征提取能力 计算机视觉技术 特征提取网络 分类策略
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