修正回波平面成像中的干扰效应

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正文
推荐专利
修正回波平面成像中的干扰效应
申请号:CN202510617478
申请日期:2025-05-14
公开号:CN120972064A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
描述一种用于借助回波平面序列对检查区域(ROI)执行磁共振成像的方法。在该方法中,生成理论模型,所述理论模型描绘生成磁场的单元(1b)的振动结构,其中通过振动结构的振动在振动结构中感生涡流,所述涡流在检查区域(ROI)中产生梯度式干扰磁场。基于理论模型(MMF)确定梯度式干扰磁场。此外,应用回波平面序列。然后,从检查区域(ROI)接收磁共振信号(RX),其中基于磁共振信号生成磁共振原始数据(RD)。基于磁共振原始数据(RD)和基于确定的在检查区域(ROI)中的梯度式干扰磁场,确定经修正的磁共振原始数据(KRD)。最后,基于经修正的磁共振原始数据(KRD)重建磁共振图像数据(BD)。也描述一种磁共振成像系统(1)。
技术关键词
磁共振原始数据 干扰磁场 振动结构 重建磁共振图像 磁共振成像系统 执行磁共振成像 回波 生成磁场 理论 序列 涡流 机械模型 计算机程序产品 谐波振荡器 输入接口 信号 指令
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