一种载流子反转分布的测定方法和装置

本发明提供了一种载流子反转分布的测定方法和装置，涉及光学技术领域。本发明载流子反转分布的测量装置包括光电二极管、芯片、透镜及光谱仪，并通过在芯片上下分别设置对应的电极以及电极之间，长度已知的第一电注入区和第二电注入区；本载流子反转分布的测定方法通过依次对测量装置第一电极和第三电极同时施加电流、对第一电极、第二电极和第三电极、第四电极同时施加电流，分析所得到的两种光谱数据I1和I2，进而获得相应的自发辐射光强，代入建立的公式计算出激光芯片的反转因子。本发明测定方法简单，可以在微观状态下载流子在不同能级上的反转分布情况，并可依此直接预测和表征激光器的性能。