一种三维集成封装结构及其封装工艺

AITNT
正文
推荐专利
一种三维集成封装结构及其封装工艺
申请号:CN202510621803
申请日期:2025-05-14
公开号:CN120711796A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种三维集成封装结构及其封装工艺,包括:具有功能面和相对背面的倒装或正装芯片;通过重布线层与芯片垂直堆叠并电性互联;将重布线层电性引出至封装结构外部;电感与芯片的堆叠方向平行于芯片厚度方向,且两者间、重布线层以及引出结构通过绝缘介质层实现物理隔离,电感为螺旋型、多圈层交叠型或分段式绕组结构,电感包括磁芯,并通过蚀刻和电镀工艺形成围绕在磁芯表面的螺旋线圈,螺旋线圈包括线路A、线路B以及线路C,磁芯和螺旋线圈被绝缘介质层包封,本发明电感与芯片倒装或正装堆叠,三维结构节省空间,减少寄生电感和电阻等,信号传输稳定、电磁干扰小,适用于微型化、高集成度等芯片封装领域。
技术关键词
三维集成封装结构 三维集成结构 封装工艺 电感 芯片 重布线层 系统级封装模块 包封 线路 电镀工艺 绝缘 绕组结构 介质 功能面 磁芯表面 螺旋
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号