CMOS传感器辐射损伤坏点补偿方法

CMOS传感器辐射损伤坏点补偿方法，其作用对象为CMOS传感器输出的含有α响应信号的纯黑背景的帧图像，其用于对所述帧图像中的坏点进行检测并补偿。方法如下：1，建立分类特征：类别目标包括α响应信号和坏点；α响应信号具有靶式分布特征，坏点具有灰度值恒定特征；2，帧图像预处理；3，像元初步判定；4，坏点判定；5，坏点补偿：将坏点划分为：位于噪声中的A类坏点和位于α响应信号中B类坏点；针对A类坏点采用众数滤波法替换灰度值；针对B类坏点采用均值滤波法替换灰度值。本发明能够在不影响α响应信号的情况下补偿坏点，减少辐射损伤对图像信息数据的干扰，提高了CMOS传感器对α粒子响应的精度。