兼容SATA和PCIE信号的MCIO测试转接卡及应用方法

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正文
推荐专利
兼容SATA和PCIE信号的MCIO测试转接卡及应用方法
申请号:CN202510624576
申请日期:2025-05-15
公开号:CN120540915A
公开日期:2025-08-26
类型:发明专利
摘要
本发明涉及兼容SATA和PCIE信号的MCIO测试转接卡及应用方法,包括转接卡主体,转接卡主体上设置有多路SFF‑8639接口、多路NGFF接口、跳帽选择电路、SWITCH监测电路和PCIE插槽;将转接卡主体通过PCIE插槽插入主板的PCIE插槽中,根据需要测试的硬盘类型,选择合适的连接方式:若为SATA、SAS或NVME硬盘,则将其连接到SFF‑8639接口上,并通过跳帽选择电路选择相应模式;若为NVME硬盘,将其连接到NGFF接口上,转接卡主体自动识别并配置相应的PCIE通道;本申请的MCIO测试转接卡通过兼容SATA/PCIE信号、多路接口设计、温度监控与保护、电源管理优化等创新点,有效解决了现有测试设备在硬盘测试中存在的兼容性差、效率低、稳定性不足等问题。
技术关键词
测试转接卡 NGFF接口 电源管理模块 散热支架 金属散热片 监测电路 跳帽 接入硬盘 散热设备 信号 智能控制算法 温度传感器 缓启动电路 微型电机 主板 模式 弹性卡爪
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沪ICP备2023015588号