二极管封装缺陷X光图像自动判读系统及方法

本发明公开了二极管封装缺陷X光图像自动判读系统及方法，具体涉及缺陷识别技术领域；通过多角度X射线成像与基于结构相似性的图像融合，有效抑制初始伪影干扰；结合区域自适应的金属伪影识别与修复模型，进一步补偿结构信息；并引入具备金属区域注意力机制的深度卷积神经网络模型，强化复杂纹理区域的特征感知能力，该方法能够显著提升金属边界区域微小缺陷的识别准确性，降低漏检与误判率。