一种微流控检测芯片、配套检测设备及检测方法

本申请实施例提供的微流控检测芯片、配套检测设备及检测方法，涉及微流控芯片技术领域，方法包括：将第一磁性件设置于顶部密封层的上方，将第二磁性件设置于基板的下方；驱动第一磁性件靠近顶部密封层，以将试剂腔内的磁性颗粒聚集在顶部密封层位于试剂腔内的一侧；驱动第一磁性件朝向远离顶部密封层方向移动，驱动第二磁性件朝向靠近基板，以将磁性颗粒吸附至试剂腔的底部；驱动第二磁性件远离基板，驱动第一磁性件靠近顶部密封层，以将磁性颗粒吸附至顶部密封层位于试剂腔内的一侧；驱动第一磁性件和第二磁性件横向移动。本申请实施例中，无需复杂的机械扰动结构及可实现磁性颗粒的转移，利于简化操作步骤。