FPGA芯片测试方法、装置、系统及存储介质

本申请公开一种FPGA芯片测试方法、装置、系统及存储介质，方法包括：获取第一测试模式下的FPGA芯片的第一测试配置数据、第一测试激励数据和参考测试响应数据；根据第一测试配置数据配置FPGA芯片；通过FPGA芯片基于第一测试激励数据执行与第一测试配置数据相应功能，得到第一测试响应数据；确定参考测试响应数据与第一测试响应数据之间的第一偏离度；在第一偏离度处于第一预设范围时，确定FPGA芯片测试通过；在第一偏离度不处于第一预设范围时，确定FPGA芯片测试未通过。采用本申请可提升FPGA芯片的测试智能性，以保证FPGA芯片的性能。