芯片性能评估与故障诊断优化测试方法

本发明涉及芯片性能评估测试技术领域，具体涉及芯片性能评估与故障诊断优化测试方法，包括以下步骤：基于芯片设计的功能模块分布和电路结构特性，生成覆盖率最优的测试向量库；在芯片运行环境中，利用所述测试向量库依次输入测试条件，同时实时采集动态性能参数；基于所述动态性能数据集，建立包括性能波动特征、临界状态阈值和隐性故障特征的多维性能特征模型；基于多维性能特征模型结合电路结构特性，反向溯源芯片功能模块间的关联性，定位具体的故障功能模块。本发明，为芯片设计优化和运行稳定性提升提供了创新的技术支持，显著缩短故障诊断时间，提高诊断的精度和可靠性。