一种LED发光二极管光源的密封检测方法

本发明涉及LED检测技术领域，公开了一种LED发光二极管光源的密封检测方法，对LED外壳进行拍摄并基于卷积神经网络模型判断LED外壳是否存在裂纹，对LED内部密封性进行初步评估，生成密封分析信号，采集LED内部温湿度、气压数据，初始化扩展卡尔曼滤波并基于该算法计算描述LED内部状态的状态向量，确定LED内部的密封性能系数，构建密封性能系数时间序列数据训练LSTM预测模型，并对预测时段内LED内部的密封性能系数进行预测，分析LED内部密封性能系数变化趋势，定义测试时段并评估LED的密封性能，若触发深度预测分析，构建物理‑数据联合驱动模型预测预估渗漏时间区间，并评估LED的密封性能。