一种基于图像处理的硅胶薄膜质量检测方法及系统

本发明公开了一种基于图像处理的硅胶薄膜质量检测方法及系统，涉及图像数据处理领域，该方法包括：从预先收集的硅胶薄膜图像中提取图像组合特征；从图像组合特征中筛选出与选定缺陷类型相关的特征，得到硅胶薄膜的经典特征；对硅胶薄膜的经典特征进行映射，得到硅胶薄膜的量子态特征；根据硅胶薄膜的量子态特征训练量子支持向量机，得到硅胶薄膜质量检测分类模型；利用硅胶薄膜质量检测分类模型，对待检测硅胶薄膜图像进行缺陷分类；将待检测硅胶薄膜图像的缺陷分类结果转化为可解释的质量检测报告。本发明通过选择与硅胶薄膜表面缺陷相关的经典特征，提升模型的分类准确率，且增强了模型的可解释性，便于用户理解和信任模型的判断。