一种硬盘老化测试方法

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一种硬盘老化测试方法
申请号:CN202510632183
申请日期:2025-05-16
公开号:CN120748466A
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种硬盘老化测试方法。该方法运用多硬盘并行接入配置技术,经高速转接板使计算机主板扩展接口连接多个硬盘,同时构建独立外部供电网络保障电力稳定。通过多任务同步测试驱动与动态负载均衡算法模拟复杂工况并优化任务分配,提升测试数据准确性。采用多层级故障响应机制及时处理故障,防止故障扩散。基于预设多维评价模型量化评估测试结果,为硬盘可靠性分级提供科学依据。本方法有效解决传统测试效率低、稳定性差、结果不精准等问题,在硬盘生产、维修及质检等领域具有广阔应用前景。
技术关键词
老化测试方法 负载均衡算法 供电网络 计算机电源 硬件抽象层接口 计算机主板 电磁隔离技术 电源噪声干扰 数据传输冲突 电源分配模块 时分复用技术 数据传输网络 电压调节模块 模拟硬盘 接入硬盘 测试硬盘 故障硬盘 多任务 硬盘数量
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